產(chǎn)品中心
Product Center
熱門(mén)搜索：
美國(guó)EDAX能譜儀
EP6美國(guó) Cascade Microtech EP6探針臺(tái)
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
主動(dòng)隔振臺(tái)ARISTT
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
P170全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
P7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
ET4000日本Kosaka輪廓儀（臺(tái)階儀）
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心光纖光譜儀Nano-IR美國(guó)ANASYS納米級(jí)近場(chǎng)紅外光譜
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
可以實(shí)現(xiàn)納米級(jí)紅獲得樣品化學(xué)性質(zhì)、接觸共振獲得樣品力學(xué)性能、原子力顯微鏡獲得樣品三維形貌、納米熱學(xué)分析獲得樣品熱量傳輸溫度。
Nano-IR納米級(jí)近場(chǎng)紅外光譜
紅外光束通過(guò)ZnSe棱鏡以傳統(tǒng)的ATR光譜類(lèi)似的全內(nèi)部反射的方式照射在樣品上。當(dāng)樣品吸收到輻射時(shí)候，該樣品區(qū)域就被加熱。導(dǎo)致其快速的熱膨脹從而激起共振懸臂的震動(dòng)，該振動(dòng)被標(biāo)準(zhǔn)的AFM光電二極管測(cè)量系統(tǒng)檢測(cè)到。這些誘導(dǎo)引起的環(huán)形振動(dòng)的衰減可以被傅里葉技術(shù)分析并提取處振動(dòng)的振幅和頻率。之后，通過(guò)建立懸臂振動(dòng)的振幅與波長(zhǎng)源的函數(shù)，從而構(gòu)建出本地的吸收光譜。與“遠(yuǎn)場(chǎng)”光學(xué)相比，該技術(shù)的特點(diǎn)在于吸收的輻射可以通過(guò)*近場(chǎng)的*得到測(cè)量?？梢詫?shí)現(xiàn)納米級(jí)紅外獲得樣品化學(xué)性質(zhì)、接觸共振獲得樣品力學(xué)性能、原子力顯微鏡獲得樣品三維形貌、納米熱學(xué)分析獲得樣品熱量傳輸溫度。
上一個(gè)：
返回列表
