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相關文章iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊,用戶友好的納米機械測量系統(tǒng),設計用于硬涂層,薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進行準確,可重復的納米級機械測試,包括壓痕,硬度,劃痕和通用納米級測試。iNano具有很大的力和位移動態(tài)范圍,可以施加高達50mN的力來測試薄膜和軟材料。模塊化選項可滿足多種應用,包括材料特性圖和高溫測試。
Nano Indenter® G200原位納米力學測試系統(tǒng)是一種準確,靈活,使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。 可測量聚合物,凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應(應變率靈敏度)。 模塊化適用各種應用:頻率特定測試,定量刮擦和磨損測試,集成的基于探頭的成像,高溫納米壓痕測試,擴展負載容量高達10N 和自定義測試。
微納米壓痕儀(高溫)通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協助開發(fā)新的實驗??茖W出版物表明,InSEM HT結果與傳統(tǒng)大型高溫試驗數據吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發(fā)研究材料的一個非常有價值的工具。
TNI LF-2000原位自動納米操作系統(tǒng)是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動化程度的納米操作系統(tǒng),也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復定位、低漂移、閉環(huán)運動控制定位的納米操作系統(tǒng)。LF-2000可以在原位條件下進行力學測量、電學測試、納米物體拾取和裝配、制作微納米器件、納米電子器件電學測量等。
FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭,能夠準確量化材料在微觀和納米尺度上的力學行為。