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Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心納米壓痕儀Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM
原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試;也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。本產(chǎn)品可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試、力學(xué)性能譜圖、納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析、劃痕和磨損測(cè)試、柱壓縮等測(cè)試,可同時(shí)將SEM圖像與力學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)同步。還可以進(jìn)行快速壓痕測(cè)量,這是在惰性環(huán)境(如手套箱)中研究非均均相材料的重要手段。
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 儀器種類 | 納米壓痕儀 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,航天,汽車 |
原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM
NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試;也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試(CSM)、力學(xué)性能譜圖(Mapping)、納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析(DMA)、劃痕和磨損測(cè)試、柱壓縮等測(cè)試,可同時(shí)將SEM圖像與力學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進(jìn)行快速壓痕測(cè)量,這是在惰性環(huán)境(如手套箱)中研究非均相材料的重要手段。
原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM
硬度和模量測(cè)量(Oliver-Pharr)
Nanoflip納米壓痕測(cè)量各種材料的硬度和模量,從超軟凝膠到硬涂層。
連續(xù)剛度測(cè)試(CSM)
連續(xù)剛度測(cè)量用于量化動(dòng)態(tài)材料特性,如應(yīng)變率和頻率誘導(dǎo)效應(yīng)。NanoFlip納米壓頭提供從0.1Hz到1kHz的動(dòng)態(tài)頻率,根據(jù)深度或頻率連續(xù)測(cè)量接觸剛度。
高速材料性能Mapping(3D/4D)
對(duì)于復(fù)合材料,不同區(qū)域的力學(xué)性能差異很大。NanoFlip在X軸和Y軸上提供21mm的樣品臺(tái)移動(dòng),在Z軸上提供25mm的樣品臺(tái)移動(dòng),允許在樣品區(qū)域上測(cè)試大范圍高度變化的樣品。地形和斷層掃描軟件可以快速生成任何測(cè)量機(jī)械性能的彩色譜圖。
納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析
聚合物是非常復(fù)雜的材料。為了獲得聚合物的有用信息,應(yīng)在相關(guān)背景下對(duì)相關(guān)樣品進(jìn)行機(jī)械性能測(cè)量。納米壓痕測(cè)試使這種測(cè)量變得更容易,因?yàn)闃悠房梢院苄。⑶抑苽渌枰牧可?。納米壓痕系統(tǒng)可以通過振蕩壓頭與材料接觸的方式來測(cè)量聚合物的復(fù)合模量和粘彈性性能。
定量劃痕磨損測(cè)試
Nanoflip可以對(duì)各種材料進(jìn)行劃痕和磨損測(cè)試。涂層和薄膜要經(jīng)過許多加工過程,例如化學(xué)和機(jī)械拋光(CMP)和金屬絲粘合,以測(cè)試這些薄膜的強(qiáng)度和它們?cè)诨咨系恼掣搅?。?duì)于這些材料來說,在這些過程中抵抗塑性變形并保持完整而不起泡是非常重要的。
相關(guān)文獻(xiàn)